大豆种子产地光谱数据分析
采用高光谱成像技术对大豆进行产地区分检测,采集不同产区大豆样本的 400–1700nm 反射光谱。通过光谱预处理、特征波长筛选及机器学习建模,实现大豆产地快速、无损、精准鉴别,为大豆溯源与品质管控提供技术支撑。
项目内容
大豆种子产地光谱数据分析(产地区分)
一、检测目的和依据
1、使用 400-1000nm、900-1700nm 相机采集大豆的光谱数据;
2、验证大豆不同产地光谱曲线特征值;
3、使用机器学习、深度学习等技术,对大豆产地高光谱数据值进行训练拟合,实现通过高光谱技术无损鉴别大豆产地技术实验与落地。
二、样品类别及数量
样本:测试实验客户来样大豆样品 数量10斤

三、采集结果
1、 数据提供
提供数据格式,每个样品数据包含如下6个格式文件:
a、样本400-1000nm、900-1700nm原始数据(包含 .dat、.hdr格式)
b、样本400-1000nm、900-1700nm反射率数据(包含 .dat、.hdr格式)
c、样本400-1000nm、900-1700nm高光谱图像(.png格式)
d、提供样品摆放实拍图(.jpg格式)
2、数据展示


四、高光谱数据分析结果
PCA分析

模型训练

基础数据模型验证

分类结果模型验证

分析结果展示





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