13867128415
数据验证
大豆种子产地光谱数据分析
大豆种子产地光谱数据分析
采用高光谱成像技术对大豆进行产地区分检测,采集不同产区大豆样本的 400–1700nm 反射光谱。通过光谱预处理、特征波长筛选及机器学习建模,实现大豆产地快速、无损、精准鉴别,为大豆溯源与品质管控提供技术支撑。
项目内容

大豆种子产地光谱数据分析(产地区分)

一、检测目的和依据

1、使用 400-1000nm、900-1700nm 相机采集大豆的光谱数据;

2、验证大豆不同产地光谱曲线特征值

3、使用机器学习、深度学习等技术,对大豆产地高光谱数据进行训练拟合,实现通过高光谱技术无损鉴别大豆产地技术实验与落地。

二、样品类别及数量

样本:测试实验客户来样大豆样品 数量10斤

大豆样品.png

三、采集结果

1、 数据提供

提供数据格式,每个样品数据包含如下6个格式文件:

a、样本400-1000nm、900-1700nm原始数据(包含 .dat、.hdr格式)

b、样本400-1000nm、900-1700nm反射率数据(包含 .dat、.hdr格式)

c、样本400-1000nm、900-1700nm高光谱图像(.png格式)

d、提供样品摆放实拍图(.jpg格式)

2、数据展示

400-1000曲线.png
900-1700曲线.png
四、高光谱数据分析结果

PCA分析

Pcca.png

模型训练

训练.png

基础数据模型验证

大豆基础数据分析.png

分类结果模型验证

分类正确.png

分析结果展示

结果图.png
采集标准.png
配件图像2.png
流水线3.png
首页 数据采集 数据处理 联系我们